|
||||||||
|
|
||||||||
| ДИАГНОСТИЧЕСКИЕ ПЛАТЫ И ПРОГРАММЫ | ||||||||
| QT100X-48/64-MF1 | ||||||||
 |
||||||||
Внутрисхемный цифровой тестер TTL /
CMOS элементов 5 V 48 цифровых канала, 64 сигнатурных
канала QSM, поиск обрывов и
коротких замыканий, измерение утечек между
выводами. Позволяет
проводить проверку микросхем TTL, CMOS, LSI, PALS, ROM, RAM, CPU
IC's.
Метод тестирования :
Внутрисхемное
функциональное тестирование
Аналоговое
тестирование
QSM VI
сигнатурное тестирование
Конфигурация:
48
цифровых каналов расширяемых до 256 каналов
(крат.16 кан)
64 QSM VI
каналов расширяемых до 256 каналов
Напряжение
цифрового тестера:
Программируемое
напряжение от 0 до 5 V с шагом 20 mV
Программируемый
ток 220 mA на канал
Память
цифрового канала: 8 К x 2 bit RAM
Частота
выборки 500 KHz max
Скорость
переключения каналов 20 наносекунд
Кол-во
аналоговых каналов - 2
8 bit - 2.5V, 5V,
8V, 19V, 32V
Диапазон
значения импеданса 50 Ом, 200 Ом, 1кОм, 10 кОм, 100 кОм
Программируемое
напряжение тестирования по амплитуде, фазе и
частоте (синусоидальное, прямоугольное,
треугольное, импульсное)
QSM
Напряжение
2,5V/8V/19V/32V
Частота 40 Hz/312Hz/2500Hz
Программируемый
ток
Библиотека
цифрового тестера включает 4 300 TLL, CMOS, LSI микросхем
|
||||||||
